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 簡易四探針測試儀,SZT-4 
產品名稱: 簡易四探針測試儀,SZT-4
產品型號: SZT-4
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簡易四探針測試儀,SZT-4

 

SZT-4型簡易四探針測試儀是一款專為材料電阻特性分析設計的實用化測量工具,適用于實驗室研究、教學演示及工業質檢等場景。該設備基于經典四探針法原理開發,通過優化探針排布與信號采集模塊,能夠快速、穩定地測量半導體材料、薄膜、陶瓷等樣品的電阻率與方塊電阻值,為材料導電性能評估提供可靠數據支持。

設備采用一體化緊湊型設計,主體尺寸僅為280mm×220mm×80mm,重量低于2.5kg,便于在不同實驗環境中靈活使用。核心測量單元配備智能恒流源技術,可根據被測材料特性自動匹配0.1mA-20mA測試電流,有效降低測量誤差。4.3英寸彩色液晶屏實時顯示測量參數,支持電阻率、方塊電阻、厚度(需輸入參數)等數據的同步計算與存儲,內置數據記錄功能可保存200組測試結果,方便后續調閱分析。

探針組件選用耐磨碳化鎢材料制作,探針間距嚴格控制在1.0mm±0.01mm,配合彈性加壓結構,既能保證良好接觸又避免損傷樣品表面。測量系統支持0.001Ω·cm~100kΩ·cm寬范圍測量,分辨率達0.1%,在常規半導體材料測試中表現出良好的重復性與穩定性。特別設計的溫度補償算法可修正環境溫度對測量值的影響,提升數據準確性。

SZT-4標配USB數據接口,兼容PC端數據管理軟件,支持測量數據導出與曲線繪制功能。儀器操作界面采用圖形化菜單設計,配備多語言切換功能,顯著降低使用門檻。設備兼容多種供電模式,既可通過適配器接入市電,也可選配鋰電池模塊實現4小時連續移動測量,滿足野外或無電源環境下的臨時檢測需求。

該產品特別適用于新能源材料研發、電子元器件制造、高校物理實驗教學等場景,能夠為石墨烯薄膜、太陽能電池片、壓敏電阻等材料的質量評估提供便捷的檢測手段。制造商提供完整的配套附件,包含校準模塊、測試臺架及操作手冊,用戶開箱即可開展基礎測量工作。

簡單介紹
SZT-4 簡易四探針測試儀 本儀器工作環境條件為: 相對濕度:60%-80%   溫  度:18℃―25℃


 

SZT-4 簡易四探針測試儀

的詳細介紹
SZT-4 簡易四探針測試儀

SZT-4數字式四探針測試儀,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程,最小可以測量0.0001Ω最大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數,對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT4數字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。

      本儀器工作環境條件為:

        相對濕度:60%80%

        溫  度:18℃―25

           

      工作室內應無強電場干擾,不與高頻設備共用電源。

二,技術參數

1,測量范圍

              0.01-200Ω-cm

方塊電阻        0.01-200Ω-

            0.01-200.0

2,數字電壓表 

      (1)    :       200mV單一量程

      (2)    :      讀數 ±0.2%±3

(3)輸入電阻 :      >10MΩ

3,

      (1)電流輸出               0~10mA連續可調

      (2)                 1mA, 10mA

      (3)                  ±0.2%±3,

4,手持式四探針測試頭

(1)      ::      1mm

  (2)探針機械游移率:      ±1.0%

  (3)      :      碳化鎢,φ0.

(4)壓力:  最大 2Kg

5,電源:

      220V±10%50Hz

功耗:  5W

6,外形尺寸;

7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測試探頭的插頭插入相應的插座中,按下電源開關使儀器得電,儀器上的數字電壓表就有讀數顯示,如果面板上的二個功能開關全部處於彈出狀態,則二個開關旁邊的“調整”指示燈和:“1mA”指示燈將被點亮,此時旋轉電流調節旋鈕電壓表讀數就會發生有規則的變化,這說明儀器已經可以正常工作。

下一步就可以跟據測試的須要對電流進行調整。電流調整應該將電流開關放在10mA的位置上。

8,電流調整

1)半導體(硅)材料的電阻率測試:

10mA電流量程上將電流調到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結果,乘以探頭修正系數0.628

  由於恒流源的調整,1mA10mA是同步的,在`10mA調準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數。

2)半導體(硅)材料薄層擴散,玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻 測試:

10mA電流量程上將電流調至4.53mA, 測得結果乘以10,就是方塊電阻。

      3)電阻測試:

電阻測試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭

“電阻測試線”(選配件)。電流調到10mA,電壓表的顯示值

就是電阻值,不用修正。

(4)在做好測試前的準備工作之后,取下探頭保護蓋,將探頭壓在被測工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,

使用時的注意事項;

(1) 保護蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。

(2) 儀器操作時,應備戴乾燥手套,操作場地,桌椅均應保持乾燥。

(3) 在被測材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺式測試架(選購件),可使測試精度和穩定性都會有所提高。

(4) 對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結果進行厚度修正,修正參數見參數表,附錄`1A和附錄1B

(5) 附錄2,是對片狀工件外形(園形,矩形)和測量位置的修正參數表。


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