DH-SJ1 基本電學型物理設計性實驗裝置型號【上海雙旭】
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功能薄膜特性測試儀是多用途綜合測量裝置，開展半導體材料的電阻性能的測試。由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀組成。四探針測試儀由主機、測試架等部分組成，測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由高靈敏度直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定度恒流源組成。非晶硅薄膜電導率測量儀由樣品室、溫控系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、高阻測量系統(tǒng)等部分組成。用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)、功能材料暗電導和光電導及溫度的變化的特性。
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